Cristina Sanna

Associate Fellow – Metrology, GlobalWafers

Ha conseguito la laurea in Fisica con indirizzo in Scienza dei Materiali presso l’Università degli studi di Milano. È entrata a far parte della famiglia GlobalWafers subito dopo la laurea occupando ruoli e responsabilità sempre crescenti all’interno della funzione Qualità.
Attualmente è responsabile del sistema Metrologia per lo stabilimento di Novara e coordina attività di sistema a livello Corporate, dando supporto a tutti i Siti del gruppo.